8 (495) 987 43 74 доб. 3304 Прием заявок на рассмотрение статей E-mail: evlasova@synergy.ru

Мы в соцсетях -              
Рус   |   Eng

Купить статью

Авторы: Атовмян И. О., Березкин Е. Ф., Ковалевский С. С., Шувалов В. Б.     Опубликовано в № 2(50) 21 апреля 2014 года
Рубрика: Модели и методики

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Ключевые слова

цифровое устройство, модуль, проверка, признак оптимальности, упоря- доченная последовательность, тест-программа

Автор статьи:

Атовмян И. О.

Ученая степень:

докт. техн. наук, профессор, и. о. заведующего кафедрой Управляющих интеллектуальных систем Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ»

Местоположение:

г. Москва

Автор статьи:

Березкин Е. Ф.

Ученая степень:

канд. техн. наук, доцент НИЯУ МИФИ

Автор статьи:

Ковалевский С. С.

Ученая степень:

докт. техн. наук, профессор НИЯУ МИФИ

Автор статьи:

Шувалов В. Б.

Ученая степень:

канд. техн. наук, доцент кафедры Управляющих интеллектуальных систем Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ»

Местоположение:

г. Москва